ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №21. Методы и технические решения, используемые для защиты сканирующих зондовых микроскопов от механических вибраций и термодрейфов. 2. В каком режиме сканирующей туннельной микроскопии возможно получение атомарного разрешения? Какие ограничения на свойства исследуемых материалов накладывает сканирующая туннельная микроскопия? 3. Изобразите силовую кривую, характеризующую взаимодействие между зондом и поверхностью. Какие участки кривой каким основным режимам АСМ соответствуют? 4. Какие типы электромеханического взаимодействия возможны между кантилевером и образцом в контактном режиме?
Составитель____________________ Никиян А.Н. Заведующий кафедрой ___________ Алиджанов Э.К. «10» мая 20 12 г
|
