Студопедия — Оценить инструментальную погрешность интерферометра, вызванную остаточными аберрациями измерительной ветви.
Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

Оценить инструментальную погрешность интерферометра, вызванную остаточными аберрациями измерительной ветви.

 

1. Калабеков Б.А. Цифровые устройства и микропроцессорные системы. М.: Радио и связь, 1997.

2. Угрюмов Е.П. Цифровая схемотехника. СПб.: БХВ, 2000, 2004.

3. Уэккерли. Проектирование цифровых устройств. 2 т.

4. Бойко В.И. и др. Схемотехника электронных систем. Цифровые устройства. СПб.: БХВ-Петербург, 2004.

5. Токхейм Р. Основы цифровой электроники. М.:Мир, 1988.

6. Пухальский Г.И., Новосельцева Т.Я. Цифровые устройства. СПб.:Изд-во «Политехника», 1996.

Московский государственный технический университет

Им. Н.Э. Баумана

_________________________________________________

Факультет Радиоэлектроники и лазерной техники

Кафедра “Оптико-электронные приборы научных исследований” (РЛ3)

Домашнее задание №3

По дисциплине

“Оптические измерения”

 

На тему

“Компенсационный метод контроля

формы асферических поверхностей»

Номер студента по списку __ 23 _

 

 

Номер задачи  
Номер варианта  

 

 

Студент гр. РЛ2 – 83 ___ Шевяхов Д. С. __

(фамилия, и., о.)

 

 

Преподаватель Лазарева Н.Л.

(фамилия, и., о.)

 

“Зачтено”: __________ ___________________

(баллы, дата) (подпись преподавателя)

 

Г.

Задача № 4

 

Для контроля формы АП оптической детали со световым диаметром D и толщиной d применяется интерферометр, схема которого дана на рис. 4. Контролируемая поверхность описывается уравнением вида: x 2 + y 2 + a 1 z + a 2 z 2 + a 3 z 3 = 0.

Источник в интерферометре – He-Ne лазер, излучающий на длине волны l =0,6328 мкм. В качестве эталон-компенсатора используется менисковая линза, выпуклая поверхность которой компенсирует аберрации нормалей контролируемой АП, а вогнутая поверхность выполняет функцию эталона. Линза установлена вплотную к контролируемой поверхности. Толщина и показатель преломления стекла эталон-компенсатора даны в таблице 4.

Рассчитать параметры и характеристики измерительной ветви интерферометра в следующей последовательности:

1) для крайнего луча, идущего в сторону эталон-компенсатора, вычислить продольную аберрацию нормали Δs’n, а также угол j наклона нормали к оптической оси;

2) вычислить расстояние s удаление вершины гомоцентрического пучка лучей, которые падают на компенсирующую поверхность;

3) вычислить радиус кривизны компенсирующей поверхности r к эталон- компенсатора;

4) с учетом толщины эталон-компенсаторавычислить радиус кривизны rэ эталонной поверхности компенсатора ;

6) вычислить остаточные аберрации компенсационной системы в автоколлимационном ходе лучей (для пяти лучей) и построить график зависимости остаточных волновых аберраций от тангенсов апертурных углов лучей, входящих в измерительную ветвь интерферометра.

Примечание: остаточные волновые аберрации вычислять с помощью компьютерной программы для расчета реальных лучей через оптическую систему.

 

Начертить схему оптической системы измерительной ветви (в масштабе) с ходом лучей и сводкой конструктивных параметров.

Сделать вывод о возможности реализации полученного результата.

Оценить инструментальную погрешность интерферометра, вызванную остаточными аберрациями измерительной ветви.

Таблица 1. Исходные данные к задаче 4

№ вар. а 1 a 2 a 3 D (мм) d (мм) d комп (мм) n комп
    0,78 0,005       1,68936

 

 

Решение

1) Уравнение контролируемой поверхности x 2 + y 2 + 490 z + 0,78 z 2 + 0,005z 3 = 0

Радиус ro кривизны поверхности при вершине равен

мм

Эксцентриситет e поверхности равен

Вогнутая асферическая поверхность (АП).

Рис. 1. К выводу зависимости продольной аберрации нормали от угла наклона к оси

Координата крайнего луча, идущего в сторону эталон-компенсатора:

мм

Для определения угла наклона нормали к оптической оси и продольной аберрации нормали к оптической оси необходимо вычислить координату z. Для этого решим уравнение поверхности, приняв x=0. С помощью ПО MathCad обнаруживаем, что уравнение имеет один вещественный корень и два мнимых. Решением примем вещественный.

мм

Для определения угла используем известную формулу аналитической гометрии

Выразим из неё и подставим значения:

-0,1469 рад или -8,4187 град

 

Продольную аберрацию нормали найдём из соотношения

-0,5314 мм

2)

3) Вычислим радиус кривизны компенсирующей поверхности r к эталон-компенсатора по формуле

 

 




<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
Выполнение работы. 1. Калабеков Б.А. Цифровые устройства и микропроцессорные системы | Чем занимается воспитатель в детском лагере

Дата добавления: 2015-08-29; просмотров: 345. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!



Аальтернативная стоимость. Кривая производственных возможностей В экономике Буридании есть 100 ед. труда с производительностью 4 м ткани или 2 кг мяса...

Вычисление основной дактилоскопической формулы Вычислением основной дактоформулы обычно занимается следователь. Для этого все десять пальцев разбиваются на пять пар...

Расчетные и графические задания Равновесный объем - это объем, определяемый равенством спроса и предложения...

Кардиналистский и ординалистский подходы Кардиналистский (количественный подход) к анализу полезности основан на представлении о возможности измерения различных благ в условных единицах полезности...

Ученые, внесшие большой вклад в развитие науки биологии Краткая история развития биологии. Чарльз Дарвин (1809 -1882)- основной труд « О происхождении видов путем естественного отбора или Сохранение благоприятствующих пород в борьбе за жизнь»...

Этапы трансляции и их характеристика Трансляция (от лат. translatio — перевод) — процесс синтеза белка из аминокислот на матрице информационной (матричной) РНК (иРНК...

Условия, необходимые для появления жизни История жизни и история Земли неотделимы друг от друга, так как именно в процессах развития нашей планеты как космического тела закладывались определенные физические и химические условия, необходимые для появления и развития жизни...

Гальванического элемента При контакте двух любых фаз на границе их раздела возникает двойной электрический слой (ДЭС), состоящий из равных по величине, но противоположных по знаку электрических зарядов...

Сущность, виды и функции маркетинга персонала Перснал-маркетинг является новым понятием. В мировой практике маркетинга и управления персоналом он выделился в отдельное направление лишь в начале 90-х гг.XX века...

Разработка товарной и ценовой стратегии фирмы на российском рынке хлебопродуктов В начале 1994 г. английская фирма МОНО совместно с бельгийской ПЮРАТОС приняла решение о начале совместного проекта на российском рынке. Эти фирмы ведут деятельность в сопредельных сферах производства хлебопродуктов. МОНО – крупнейший в Великобритании...

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2024 год . (0.011 сек.) русская версия | украинская версия