Студопедия — Структура полупроводников
Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

Структура полупроводников






Кристаллическая решетка. Независимо от природы сил, возникающих при сближении частиц, общий характер их остается одинаковым (рис. 1.7, а): на относи­тельно больших расстояниях появляются силы притяжения Fп, быст­ро увеличивающиеся с уменьшением расстояния r между частицами (кривая 1), на малых расстояниях возникают силы отталкивания Fот, которые с уменьшением r увеличиваются значительно быстрее, чем Fп (кривая 2). На расстоянии r=r0 силы отталкивания уравновеши­вают силы притяжения и результирующая сила взаимодействия F обращается в нуль (кривая 3), а энергия взаимодействия достигает минимального значения U (рис. 1.7, б).   Поэтому состояние частиц, сближенных на расстояние r0, является состоянием устойчивого рав­новесия, вследствие чего частицы, предоставленные самим себе, должны выстраиваться в строгом порядке на расстоянии r0 друг от друга, об­разуя тело с правильной внутренней структурой — кристалл.   Рис.1.7.

Такая структура будет сохраняться до тех пор, пока энергия связи остается выше по абсолютному значению энергии теплового движения частиц. Частицы кри­сталла не могут свободно покидать свои положения равновесия, так как при удале­нии от этих положений энергия частиц уве­личивается и появляются силы, стремя­щиеся вернуть их в положения равновесия. Частицы как бы закреплены в положе­ниях равновесия. Единственной доступной формой движения для них является беспо­рядочное колебание около положений рав­новесия.

Для описания правильной внутрен­ней структуры кристаллов удобно поль­зоваться понятием кристаллической ре­шетки. Различают трансляционные решет­ки Бравэ и решетки с базисом.

Решетки Бравэ. С геометрической точ­ки зрения, правильное периодически пов­торяющееся размещение частиц в кристал­ле можно описать с помощью операции па­раллельного перемещения, или трансляции. На рис. 1.8, а показана решетка, полу­ченная трансляцией частицы вдоль трех осей: ОХ на отрезки а, 2а, За,.... ma, ОУ на отрезки b, 2b, Зb,.... nb,...; OZ на от­резки с, 2с, 3с,.... рс, (m,n,p— целые числа). Положение любой частицы в та­кой решетке определяется вектором

(1.8)

Векторы, а, b, с называются наименьшими векторами трансляции, а численные их величины — периодами трансляции.

Решетка, построенная путем параллельного переноса (трансляции) какого-либо узла по трем направлениям, называется трансляционной решеткой, или решеткой Бравэ

Наименьший параллелепипед, пост­роенный на векторах а, b,с, называют элементарной ячейкой кристалла (рис. 1.8,б). Все элементарные ячейки, составляющие решетку, имеют одинаковые форму и объем. Во всех вершинах ячеек распола­гаются одинаковые атомы или группы атомов. Поэтому все вершины ячеек эквивалентны друг другу. Их называют узлами решетки. Для характеристики элементарной ячейки необходимо задать в общем случае шесть величин: три ребра ячейки (а, b, с) и три угла между ними . Эти величины называются параметрами элементар­ной ячейки.

Рис.1.8.

За единицу измерения длины в решетках прини­мается не метр, а отрезки а, Ь, с. Их называют осевыми единицами.

Элементарные ячейки, содержащие частицы только в вершинах, называют простыми, или примитивными. На каждую такую ячейку приходится одна частица.

В ряде случаев для достижения более полного выражения симмет­рии решетки элементарные ячейки строят таким образом, что они со­держат частицы не только в вершинах, но и в других точках. Такие ячейки называют сложными. Наиболее распространенными из них являются (рис.19):

а)- базоцентрированные (БЦ), б)- объемноцентрированные (ОЦ), в)- гранецентрированные (ГЦ). Рис.1.9

Решетки с базисом. Не всякую решетку можно получить трансля­цией одного узла.

Решетку общего типа называют решет­кой с базисом. Ее можно построить с по­мощью тех же трансляций, что и каждую из составляющих решеток Бравэ, только при этом надо транслировать не один узел, а не­сколько узлов — базис, задаваемый совокуп­ностью базисных векторов. Рис.1.10

В каче­стве примера трехмерной решетки с базисом на рис.1.10, а показа­на решетка алмаза. Ее можно образовать двумя вставленными одна в другую ГЦ-решетками, смещенными по пространственной диагона­ли на 1/4 диагонали.

На рис. 1.10,б приведена элементарная ячей­ка решетки алмаза, выделенная на рис. 1.10,а пунктиром.

Индексы узлов (индексы Миллера узлов). Положение любого узла решетки относительно выбранного начала координат определяется заданием трех его координат (рис.1.11): х, у, z. Эти координаты можно выразить следующим образом:

(1.9)

где а, b, с — параметры решетки; m,n,p — целые числа.

Если за единицу измерения длин вдоль осей решетки принять параметры решетки, то координатами узла будут просто числа m,n,p. Эти числа называются индексами узла и записываются так: [[mnp]]. Для от­рицательного индекса знак минус ста­вится над индексом. Рис.1.11

Например, для узла с координатами х = —2а, у = — 1b, z =3с индексы записывают в следующем виде: .

Индексы направления (индексы Миллера направления). Для опи­сания направления в кристалле выби­рается прямая, проходящая через нача­ло координат. Ее положение однознач­но определяется индексами [[mnp]] первого узла, через который она проходит (рис. 1.11).

Индексы направления обозначают так: [mnp].

Индексы направления пред­ставляют собой три наименьших целых числа, характеризующих поло­жение ближайшего узла, лежащего на данном направлении.

Так, ин­дексами направления, проходящего через качало координат и узел [[435]], являются [435].

Рис.1.12

Кристаллографические плоскости (индексы Миллера плоскости). Положение кристаллографической плоскости определяется заданием трех отрезков А, В, С, которые она отсекает на осях решетки.

Выражают отрезки А, В, С в осевых единицах и записывают ве­личины, обратные этим отрезкам: 1/А, 1/В, 1/С. Полученные дроби приводят к общему знаменателю. Пусть таковым будет число D. Целые числа h=D/A, k=D/B, l =D/C и являются индексами плоскости. Они записываются так: (hkl).

Определим, например, индексы плоскости, отсекающей на осях отрезки А =1/2, Б=2, С= 1/3.

Отношения

Общий знаменатель D = 2. Индексами плоскости являются:

, , . Плоскость обозначают (416).

На рис. 2,а показаны кристаллографические плоскости и соответствующие им индексы Миллера. Цифра 1 означает, что соответствующая плоскость проходит через точку соответствующей оси с единичной координатой. Цифра 0 означает, что кристаллографическая плоскость параллельна данной оси координат.

На рис. 1.13 показаны кристаллографические плоскости и соответствующие им индексы Миллера применительно к простейшей кубической решетке. Цифра 1 означает, что соответствующая плоскость проходит через точку соответствующей оси с единичной координатой. Цифра 0 означает, что кристаллографическая плоскость параллельна данной оси координат.

Рис.1.13

 

Рис. 1.14.

а — кристаллографические плоскости:

б — расположение атомов в кристаллографических плоскостях

 

Каждой кристаллографической плоскости свойственна своя плотность атомов на единицу площади. Например, если «посмотреть» на кристалл с кубической решеткой перпендикулярно плоскостям (100), (110) и (111), то расположение атомов в поле зрения будет таким, как показано на рис. 1.14, б (для ясности узловые атомы пронумерованы). Наибольшая плотность атомов соответствует плоскости (111), наименьшая — плоскости (100). У кремния плоскость (111) является плоскостью спайности: по ней, как правило, распространяются трещины, и происходит раскалывание кристалла.

Для разных кристаллографических плоскостей оказываются разными многие свойства и параметры кристалла: оптически свойства, скорость травления и др. Поэтому пластины для изготовления ИС шлифуют точно по заранее заданной кристаллографической плоскости.

 







Дата добавления: 2015-10-19; просмотров: 851. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!



Важнейшие способы обработки и анализа рядов динамики Не во всех случаях эмпирические данные рядов динамики позволяют определить тенденцию изменения явления во времени...

ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА Статика является частью теоретической механики, изучающей условия, при ко­торых тело находится под действием заданной системы сил...

Теория усилителей. Схема Основная масса современных аналоговых и аналого-цифровых электронных устройств выполняется на специализированных микросхемах...

Логические цифровые микросхемы Более сложные элементы цифровой схемотехники (триггеры, мультиплексоры, декодеры и т.д.) не имеют...

Экспертная оценка как метод психологического исследования Экспертная оценка – диагностический метод измерения, с помощью которого качественные особенности психических явлений получают свое числовое выражение в форме количественных оценок...

В теории государства и права выделяют два пути возникновения государства: восточный и западный Восточный путь возникновения государства представляет собой плавный переход, перерастание первобытного общества в государство...

Закон Гука при растяжении и сжатии   Напряжения и деформации при растяжении и сжатии связаны между собой зависимостью, которая называется законом Гука, по имени установившего этот закон английского физика Роберта Гука в 1678 году...

Классификация ИС по признаку структурированности задач Так как основное назначение ИС – автоматизировать информационные процессы для решения определенных задач, то одна из основных классификаций – это классификация ИС по степени структурированности задач...

Внешняя политика России 1894- 1917 гг. Внешнюю политику Николая II и первый период его царствования определяли, по меньшей мере три важных фактора...

Оценка качества Анализ документации. Имеющийся рецепт, паспорт письменного контроля и номер лекарственной формы соответствуют друг другу. Ингредиенты совместимы, расчеты сделаны верно, паспорт письменного контроля выписан верно. Правильность упаковки и оформления....

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2024 год . (0.008 сек.) русская версия | украинская версия