Электросиловая микроскопия. Магнитно-силовая микроскопия. Ближнепольная оптическая микроскопия1. С помощью какого режима сканирующей зондовой микроскопии можно исследовать магнитные свойства материалов? 2. Каким образом в режиме магнитной силовой микроскопии удается разделить магнитный и топографический вклады в результирующее изображение? 3. Какие токопроводящие покрытия зондов используются для работы в электрических методиках сканирующей зондовой микроскопии? 4. Какие типы электромеханического взаимодействия возможны между кантилевером и образцом в контактном режиме? 5. Каким образом реализованы измерения в режиме контактной сканирующей емкостной микроскопии? 6. Каким образом реализовано измерение поверхностного электростатического потенциала в методе зонда Кельвина? 7. На какой гармонике детектируется возбуждение механических колебаний в режиме сканирующей емкостной микроскопии? 8. Каковы преимущества методов зондовой микроскопии по сравнению с другими типами микроскопии? 9. Какие ограничения накладывает дифракционный предел на пространственное разрешение классической оптической микроскопии? 10. В чем заключается основная идея реализации сканирующей ближнепольной оптической микроскопии, обеспечивающая многократное увеличение разрешающей способности методики? 11. Какие типы зондов используются в сканирующей ближнепольной оптической микроскопии? 12. Каким образом в режиме сканирующей ближнепольной оптической микроскопии контролируется расстояние между зондом и поверхностью?
|
